设备型号：Table XAFS 3000

生产厂家：安徽创谱

主要应用范围：

X射线精细结构谱仪基于X射线与原子内层电子的相互作用，通过测量材料对X射线的吸收（XAFS）和发射（XES）谱，可实现对材料原子与电子结构的解析，是研究材料微观局域结构的强大工具。桌面式X射线吸收精细结构谱仪无需同步辐射光源即可高分辨率地测试元素的化学价态、电子结构、配位环境、键长、配位数及无序度等参数，同时能够分析自旋态、轨道杂化等电子特性，广泛应用于新能源（如锂离子电池、燃料电池）、催化、环境科学、生物医药及地质矿物等研究领域。

仪器配备原位池，可进行原位电催化、光催化、热催化及电池测试。

主要规格及技术参数：

1、高分辨罗兰环结构X射线单色器，X射线吸收精细结构（XAFS）能量范围：≥4.5 ~ 22 keV，较为适用于3d元素（Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn）测试。

2、光源：2.0kW X射线光源2套，靶材分别为Mo靶和W靶，最大高压≥40 kV，最大电流≥40mA；可开最大功率≥2.0kW，连续时长≥50min；配套全软件控制高压电源、冷水机、安全自锁装置，软件控制自动切换。

3、大口径球面弯晶扫描系统：直径≥102mm，曲面半径500 mm Si/Ge弯晶单色器≥20套，其中Ge材质单色器≥4套，实现工作能量范围内各个元素的最优分辨。

4、能量分辨率：≤0.5 ~ 1 eV (7~9 keV)。

5、预校准晶体支架，切换晶体后可立即测试，无需重复校准准直。

6、高精度罗兰圆式能谱扫描系统，可覆盖布拉格角范围：85°~55°。

7、X射线吸收精细结构谱功能最大加速电压≥40 kV，最大电流≥40 mA。

8、光通量：样品处≥2500000光子数/s (7~9 keV光源)。

9、单次扫描范围：≥600 eV。

10、重复性：≤30 meV。

11、16位进样装置，软件控制电动定位。

12、探测器：双SDD探测器，吸收层厚度分别为≥0.5 mm和≤1 mm。

存放地点：海南大学（海甸校区）热作楼201-5

专家咨询电话：（0898）66168037

联系人：许雪飞（18895627261）