为满足我校广大师生研究需求，推动学校大型仪器设备开放共享，分析测试中心将举办X射线吸收精细结构谱仪（XAFS）专项培训。现将具体事宜通知如下：
一、仪器介绍
X射线精细结构谱仪基于X射线与原子内层电子的相互作用，通过测量材料对X射线的吸收（XAFS）和发射（XES）谱，可实现对材料原子与电子结构的解析，是研究材料微观局域结构的强大工具。桌面式X射线吸收精细结构谱仪无需同步辐射光源即可高分辨率地测试元素的化学价态、电子结构、配位环境、键长、配位数及无序度等参数，同时能够分析自旋态、轨道杂化等电子特性，广泛应用于新能源（如锂离子电池、燃料电池）、催化、环境科学、生物医药及地质矿物等研究领域。
二、培训日程
培训日期 | 培训时间 | 培训内容 | 培训地点 |
9月22日 | 9:00-12:00 | XAFS基本原理及台式设备基础介绍、XAFS数据预处理软件ATHENA的使用。 | 热带作物国家重点实验室110-1 |
14:30-18:00 | 设备实操及制样与测试技巧理论培训、样品制备实操培训、XAFS测试功能使用培训。 | 热带作物国家重点实验室201-5 |
9月23日 | 9:00-12:00 | XAFS测试功能光管切换、探测器切换功能培训。 | 热带作物国家重点实验室201-5 |
14:30-18:00 | XES测试功能使用培训。 | 热带作物国家重点实验室201-5 |
9月24日 | 9:00-12:00 | XES测试功能使用培训及功能切换培训。 | 热带作物国家重点实验室201-5 |
14:30-18:00 | 现场样品测试，用户动手工程师指导。 | 热带作物国家重点实验室201-5 |
三、联系方式
许老师 （电话 18895627261）
（文：许雪飞，初审：王桂振，终审：贾春满）
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