分析测试中心新购置的桌面式X射线吸收精细结构谱仪(Table XAFS 3000)已完成安装调试,现定于2026年4月1日面向全校开启运行,欢迎校内外广大用户预约使用。
一、仪器简介
X射线精细结构谱仪基于X射线与原子内层电子的相互作用,通过测量材料对X射线的吸收(XAFS)和发射(XES)谱,可实现对材料原子与电子结构的解析,是研究材料微观局域结构的强大工具。桌面式X射线吸收精细结构谱仪无需同步辐射光源即可高分辨率地测试元素的化学价态、电子结构、配位环境、键长、配位数及无序度等参数,同时能够分析自旋态、轨道杂化等电子特性,广泛应用于新能源(如锂离子电池、燃料电池)、催化、环境科学、生物医药及地质矿物等研究领域。
二、送样要求及测试须知
(一)测试范围:
本仪器能量范围4.5 keV~22 keV,较为适用于3d元素(Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn)测试,所有可测元素见下表红框部分。
仪器配备原位池,可进行原位电催化、光催化、热催化及电池测试。

(二)样品准备要求:
常规透射测试包括金属Foil测试+样品数量。该仪器配备11个金属Foil(Ti,V,Cr,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Au,Pt,Mn),氧化物和化合物标样需自行准备(建议使用Sigma品牌药品)。默认使用测试待测元素foil标样(不收费)标定仪器状态,无foil标样时建议用户提供待测元素常见氧化物粉末作为标样。
填写送样单(见附件1),送样单中需准确标注各元素含量(提供ICP测试数据)。
(三)测试模式:
粉末样品压片测试,请提前告知所需条件,沟通实验开展,一般需要提前进行样品粗扫筛选,再进行实验(联系测试老师,在仪器室使用专用模具进行压片制样)。
(四)样品用量要求:
根据ICP结果中的元素含量,通过软件(与测试老师联系获取)计算样品用量,实际用量为软件计算结果的1.2~1.5倍。若提供的元素含量不准,可能导致反复制样和粗扫。
常规测试情况下,建议待测元素含量不低于5wt%。单金属元素情况下,待测元素金属含量1 wt.%以上可测(1~2 wt.%效果较差,可沟通测试),含第二种金属元素情况下,待测元素金属含量5 wt.%以上可测。
对载体:轻质载体(C、BN等)易于测试(载体吸收X射线较弱则影响小),重质载体(如CeO2等)测试较为困难,低载量下无法测试。
(五)计费标准:
测试项目 | 元素含量 | 计费标准 |
校内(元/元素) | 校外(元/元素) |
XAFS | ≥20 wt.% | 1500 | 2000 |
5~20 wt.% | 2000 | 2500 |
1~5 wt.%(仅轻质载体) | 2500 | 3000 |
高熵合金 | 2500 | 3000 |
XES | - | 1000 | 1500 |
原位测试按时间收费,具体可与负责老师沟通。
三、预约:
预约方式:海南大学大型仪器共享服务平台预约(搜索X射线吸收精细结构谱仪)
送样地点:热作新国重201-5
联系人:许雪飞 18895627261
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